Презентація найсучаснішого методу глибокого дослідження та обробки матеріалів в машинобудуванні за допомогою скануючого електронного мікроскопу.
Дана презентація призначена для вивчення загальних принципів та методів, які покладенні в роботу скануючого електронного мікроскопу. Демонстративні матеріали, які використовуються в презентації, базуються на прикладі електронного мікроскопу JSM–6490LV з приставкою INCA Penta FET×3. Презентація може застосовуватись при викладанні таких дисциплін, як «матеріалознавство», «електроматеріалознавство», «металознавство», «зварювальне виробництво», «ливарне виробництво», «термічна обробка», як додатковий демонстративний матеріал при проведені лекційних та практичних занять.
